[ iSTART Webinar ] 快速實現晶片生命週期檢測電路

隨著半導體製程越來越精進，晶片上電後記憶體讀寫是否正常，成為未來確保晶片使用週期的重要環節。
芯測科技的START^TM v3與EZ-BIST提供了開機自我檢測（POT）和精簡測試（RT）的功能，讓晶片上電後在極短的時間內完成記憶體測試流程，迅速驗證記憶體讀寫的正確性，確保晶片的使用週期。