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活動一覽

[ iSTART Webinar] – 快速實現晶片生命週期檢測電路

20220721_NO QRCODE_工作區域 1

活動日期: 2022-07-21

活動時間: 14:00~14:30

活動地點: Live webinar

隨著半導體製程越來越精進,晶片上電後記憶體讀寫是否正常,成為未來確保晶片使用週期的重要環節。
芯測科技的STARTTM v3與EZ-BIST提供了開機自我檢測POT精簡測試(RT)的功能,讓晶片上電後在極短的時間內完成記憶體測試流程,迅速驗證記憶體讀寫的正確性,確保晶片的使用週期。